裏面入射型InGaAs/InP-PINフォトダイオードアレイモジュールの信頼性評価
書誌事項
- タイトル別名
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- Reliability of Back-illuminated InGaAs/InP-PIN Photodiode Array Module
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説明
大量の信号を伝送する多チャネル光通信においては高い信頼性を有する受光素子アレイモジュールが不可欠である。今回6ch裏面入射型InGaAs/InP-PINフォトダイオード(PD)アレイを用いたPDアレイモジュールの長期信頼性を評価し、良好な長期信頼性が示されたので報告する。
収録刊行物
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- 電子情報通信学会総合大会講演論文集
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電子情報通信学会総合大会講演論文集 1995 (1), 189-, 1995-03-27
一般社団法人電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571135652428196480
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- NII論文ID
- 110003241729
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- NII書誌ID
- AN10471452
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles