AFMフォースマッピング技術による有機薄膜の官能基識別 : フォースマッピング測定による官能基分布の評価
書誌事項
- タイトル別名
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- Identification of functional groups on organic thin films by mapping interaction forces measured with the AFM : Evaluation of the spatial distribution of functional groups by the force-mapping measurement
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説明
我々はこれまで、原子間力顕微鏡(AFM)を用いた探針/試料間の局所的な相互作用力の測定により、LB法やセルフアセンブリ法によって形成される有機薄膜表面の官能基を対象として、官能基種の識別が可能であることを検証してきた。一方、官能基の空間的な分布については、試料表面上の一点一点で任意の力成分に対して力の大きさのマッピングを行うことにより、その分布を画像化することが可能となる。今回、このフォースマッピング技術を、表面に官能基をパターニングした試料、LB混合膜の相分離構造、および液晶配向膜の解析に適用した結果について紹介する。
収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告. OME, 有機エレクトロニクス
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電子情報通信学会技術研究報告. OME, 有機エレクトロニクス 98 (363), 15-22, 1998-10-23
一般社団法人電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571417127420592512
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- NII論文ID
- 110003300959
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- NII書誌ID
- AN10013334
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles