Two-Dimensional Quantization Effect on Indirect Tunneling in an Insulated-Gate Lateral pn-Junction Structure with a Thin Silicon Layer

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• CRID

  1571698601748197888

• NII論文ID

  110000142902

• NII書誌ID

  AN00046916

• ISSN

  04532198

• 本文言語コード

  en

• データソース種別

  • CiNii Articles