SiC 結晶中の積層欠陥の透過電子顕微鏡による構造解析
書誌事項
- タイトル別名
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- Evaluation of Stacking Faults in SiC Crystal by Transmission Election Microscope
収録刊行物
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- 千葉工業大学研究報告 = Report of Chiba Institute of Technology
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千葉工業大学研究報告 = Report of Chiba Institute of Technology (63), 23-28, 2016-01-01
Chiba Institute of Technology
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571980077587267328
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- NII論文ID
- 120005692032
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- Web Site
- http://id.nii.ac.jp/1196/00000090/
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles