宇宙用及び民生用バイポーラトランジスタのシングルイベント耐性

参考文献4件

書誌事項

タイトル別名
  • Tolerance for Single-Event Effect of Bipolar Transistors for Space and Commercial system application

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説明

宇宙空間では、銀河宇宙線や太陽フレアからの放射線が半導体デバイスに入射した場合、シングルイベントと呼ばれる誤動作(ソフトエラー)や破壊(ハードエラー)を起こす現象が見られる。これまで、パワーMOSFETのシングルイベント耐性に関するデータを取得してきたが、今回、その測定技術をバイポーラトランジスタに応用し、宇宙用及び民生用バイポーラトランジスタのシングルイベント耐性のデータを取得した。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1572261552259510400
  • NII論文ID
    110003198999
  • NII書誌ID
    AN10012932
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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