次世代のテストのための電子インフラストラクチャー
書誌事項
- タイトル別名
-
- ジセダイ ノ テスト ノ タメ ノ デンシ インフラストラクチャー
- インフォメーション&テクノロジー
- インフォメーション テクノロジー
この論文をさがす
抄録
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
収録刊行物
-
- 学習評価研究 / C.S.L.学習評価研究所 編
-
学習評価研究 / C.S.L.学習評価研究所 編 8 (4), 14-29, 1998-03
横浜 : C.S.L.学習評価研究所 ; 1990-1998
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1524232503247215232
-
- NII論文ID
- 40004882016
-
- NII書誌ID
- AN10360087
-
- ISSN
- 13437062
-
- NDL書誌ID
- 4444351
-
- 本文言語コード
- ja
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZF1(教育)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles