C-8-2 HTS-SQUIDを用いた試料回転式磁化率計の試料形状最適化による高感度計測法の検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
書誌事項
- タイトル別名
-
- C-8-2 Highly Sensitive Measurement Method by Optimizing Sample Shape Using HTS-SQUID Based Rotating Sample Magnetometer
この論文をさがす
収録刊行物
-
- 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集
-
電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2014 (2), 16-, 2014-09-09
一般社団法人電子情報通信学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1572543027714976768
-
- NII論文ID
- 110009882198
-
- NII書誌ID
- AN10489017
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- CiNii Articles