分子線エピタキシー法によるMnBi薄膜の作製と評価

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タイトル別名
  • Molecular Beam Epitaxy and Characterization of MnBi Thin Films

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  • CRID
    1573105974376061696
  • NII論文ID
    10007795666
  • NII書誌ID
    AN10269644
  • ISSN
    13408100
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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