高精度ディレイ計算モデルにおけるクリティカルパストレースアルゴリズム

書誌事項

タイトル別名
  • A critical path trace algorithm for a precise delay model

この論文をさがす

説明

高性能LSIの設計においては高精度な計算モデルを用いたディレイ検証ツールが極めて重要である。過去2、3年のあいだに発表されたディレイ検証アルゴリズムは、主に論理的に無意味なパス(false path)を削除することに主力を置いており、計算モデルとcritical pathの関係には着目していなかった。本論文では入力信号の立上り時間に依存した遅延時間計算モデル(RAMP TIME MODEL)を用いる場合に、従来のCRITICAL PATH TRACE ALGORITHMでは真のcritical pathを見逃してしまうことを解析的に証明し、その解決策としてshadow critical path trace algorithmを提案する。数種のベンチマークを用いた実験ではアルゴリズムの有効性を確認できた。

収録刊行物

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1573105977189428480
  • NII論文ID
    110003198302
  • NII書誌ID
    AN10013094
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ