Cut-off Characteristics of Leaky Sezawa and Pseudo-Sezawa Wave Modes for Thin-film Characterization

収録刊行物

被引用文献 (1)*注記

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1573387449551812480
  • NII論文ID
    10009832143
  • データソース種別
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ