Temperature dependence of low-frequency noise in Al-Al_2O_3-Al single-electron transistors
書誌事項
- 公開日
- 2000
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収録刊行物
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- J. Appl. Phys.
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J. Appl. Phys. 88 (11), 6536-6540, 2000
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1573387449851920768
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- NII論文ID
- 80012092054
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- NII書誌ID
- AA00693547
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- データソース種別
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- CiNii Articles