Novel bulk dynamic threshold voltage MOSFET (B-DTMOS) with advanced isolation (SITOS) and gate to shallow-well contact (SSS-C) processes for ultra low power dual gate CMOS
書誌事項
- 公開日
- 1996
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収録刊行物
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- IEDM Technical Digest
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IEDM Technical Digest 459-462, 1996
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1573668925604596352
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- NII論文ID
- 80009647994
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- NII書誌ID
- BA21866324
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- データソース種別
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- CiNii Articles