Phase determination from image and diffraction plane pictures in the electron microscope

収録刊行物

  • Optik

    Optik 35 (3), 275-284, 1971

被引用文献 (1)*注記

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1573668925814696704
  • NII論文ID
    10026829875
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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