Theory of the External Photoelectric Effect in Semiconductor : Part I. BaO-, SrO-, and Cu_2O-Semiconductors Behaviours of the Photosensitivity near Threshold
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- MUTO Toshinosuke
- Institute of Science and Technology, Tokyo University
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- YAMASHITA Jiro
- Institute of Science and Technology, Tokyo University
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収録刊行物
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- Journal of the Physical Society of Japan
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Journal of the Physical Society of Japan 2 (6), 187-192, 1948-06-25
一般社団法人日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1573950401631050112
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- NII論文ID
- 110001951834
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- NII書誌ID
- AA00704814
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- ISSN
- 00319015
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- 本文言語コード
- en
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- データソース種別
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- CiNii Articles