D-10-5 ビット遷移に着目したテストパターン生成手法の提案と評価(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
書誌事項
- タイトル別名
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- D-10-5 The evaluation of test pattern generation method focus on bit transition
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会総合大会講演論文集
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電子情報通信学会総合大会講演論文集 2014 (1), 124-, 2014-03-04
一般社団法人電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1573950402626134528
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- NII論文ID
- 110009827782
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- NII書誌ID
- AN10471452
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles