Self-Limiting Atomic-Layer Selective Deposition of Silicon Nitride by Temperature-Controlled Method

  • OOBA Kenji
    Research Center for Nanodevices and Systems, Hiroshima University
  • NAKASHIMA Yoshimitsu
    Research Center for Nanodevices and Systems, Hiroshima University
  • NAKAJIMA Anri
    Research Center for Nanodevices and Systems, Hiroshima University
  • YOKOYAMA Shin
    Research Center for Nanodevices and Systems, Hiroshima University

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  • CRID
    1574231874957269120
  • NII論文ID
    10017195685
  • NII書誌ID
    AA10777858
  • 本文言語コード
    en
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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