Overview of HVEM Investigations in Materials Science

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High-voltage electron microscopy possesses a number of advantages that cannot be afforded by conventional electron microscopy. Topics in recent investigations with HVEMs in materials science are reviewed.

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  • CRID
    1870020692956763904
  • DOI
    10.5355/jast.2011.a1
  • ISSN
    20933371
    20933134
  • データソース種別
    • OpenAIRE

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