光コムパルス干渉を用いた高精度長さセンシング技術に関する研究
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- 増田, 秀征
- 東京大学
書誌事項
- タイトル
- 光コムパルス干渉を用いた高精度長さセンシング技術に関する研究
- 著者
- 増田, 秀征
- 学位授与大学
- 東京大学
- 取得学位
- 博士(工学)
- 学位授与番号
- 甲第40222号
- 学位授与年月日
- 2023-03-23
説明
学位の種別: 課程博士|審査委員会委員 : （主査）東京大学教授 高橋 哲, 東京大学教授 神保 泰彦, 東京大学教授 三村 秀和, 東京大学准教授 道畑 正岐, 産総研博士 平井 亜紀子
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1910022222480890240
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- HANDLE
- 2261/0002011394
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- IRDB
