トライステート素子を含む論理回路の検査入力生成に関する研究

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タイトル
トライステート素子を含む論理回路の検査入力生成に関する研究
タイトル別名
  • トライステート ソシ オ フクム ロンリ カイロ ノ ケンサ ニュウリョク セイセイ ニ カンスル ケンキュウ
著者
板崎, 徳禎
著者別名
  • イタザキ, ノリヨシ
学位授与大学
広島大学
取得学位
工学博士
学位授与番号
甲第812号
学位授与年月日
1989-12-07

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説明

博士論文

資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
博士論文

目次

目次

第1章 序論

1.1 研究の目的および意義

1.2 論文の構成

第2章 論理回路の故障検査

2.1 故障検査の概説

2.2 検査人力生成の基礎事項及び諸定義

第3章 活性化経路を利用した検査人力生成の効率化

3. 1 まえがき

3.2 準備

3.3 D活性化経路上の故障検査

3.4 手法の改良

3.5 完全透過経路と半透過経路

3.6 実験結果

3.7 あとがき

第4章 Z-AIgで用いる各種モデル

4.1 信号値モデル

4.2 素子モデル

4.3 故障モデル

第5章 トライステート素子を含む場合の特殊性

5.1 バスクラッシュ

5.2 メモリーリテンション

第6章 Z-Alg (I)検査人力生成アルゴリズム

6.1 まえがき

6.2 アルゴリズムの概要

6.3 各手続きの詳細

6.4 実験結果

6.5 あとがき

第7章 Z-Alg (II)検査入力生成アルゴリズム

7. 1 まえがき

7.2 アルゴリズムの概要

7.3 各手続きの詳細

7.4 実験結果

7.5 あとがき

第8章 まとめ

謝辞

参考文献

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