Combination of focused ion beam (FIB) and microtome by ultrathin slice preparation for transmission electron microscopy (TEM) observation

書誌事項

公開日
2018-09-19
DOI
  • 10.1186/s40623-018-0920-7
公開者
Springer Nature

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収集根拠 : オンライン資料収集制度
資料形態 : テキストデータ
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他

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