A New Framework for Critical Area Estimation in VLSI

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タイトル
A New Framework for Critical Area Estimation in VLSI
著者
X.Jiang, Y.Hao, S.Horiguchi

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010000781782554637
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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