Evaluation of Damage in DNA Molecules Resulting from Very-Low-Frequency Magnetic Fields by Using Bacterial Mutation Repairing Genetic System

書誌事項

タイトル
Evaluation of Damage in DNA Molecules Resulting from Very-Low-Frequency Magnetic Fields by Using Bacterial Mutation Repairing Genetic System
著者
Akira IGARASHI, Koichiro KOBAYASHI, Hidetoshi MATSUKI, Ginro ENDO, Akira HAGA

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詳細情報

  • CRID
    1010000781805346441
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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