Effect of Post-Annealing in Nitrogen Gas on the Microstructure of ZnO Thin Films Prepared Using Atmospheric Pressure Cold Plasma

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Effect of Post-Annealing in Nitrogen Gas on the Microstructure of ZnO Thin Films Prepared Using Atmospheric Pressure Cold Plasma

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  • CRID
    1010000781857983106
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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