Delay fault ATPG for F-scannable RTL circuits

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タイトル
Delay fault ATPG for F-scannable RTL circuits
著者
Marie Engelene Jimenez Obien, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara

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詳細情報

  • CRID
    1010000782131345175
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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