極薄SOI膜のゼーベック係数制御とナノ構造熱電特性測定技術の構築

書誌事項

タイトル
極薄SOI膜のゼーベック係数制御とナノ構造熱電特性測定技術の構築
著者
池田浩也，鈴木悠平，三輪一聡，ファイズ・サレ

収録刊行物

  • 信学技報

    信学技報 ED2013-137, SDM2013-152 31-35, 2014

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010000782219417613
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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