論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
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- 四柳 浩之
- 徳島大学
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- 樋上 喜信
- 愛媛大学
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- Takahashi Hiroshi
- 愛媛大学
Bibliographic Information
- Title
- 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
- Author
- 藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告
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電子情報通信学会技術研究報告 115 13-18, 2015
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1010000782247461762
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- Article Type
- journal article
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- Data Source
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- KAKEN
