論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
書誌事項
- タイトル
- 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
- 著者
- 藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告
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電子情報通信学会技術研究報告 115 13-18, 2015
電子情報通信学会技術研究報告 115 13-18, 2015
