超伝導薄膜の特性測定
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- Iwashita Yoshihisa
- 京都大学
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- 佐伯 学行
- 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
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- 久保 毅幸
- 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
Bibliographic Information
- Title
- 超伝導薄膜の特性測定
- Author
- 岩下 芳久，頓宮 拓，不破 康裕，早野仁司， 佐伯 学行，久保 毅幸
Journal
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- Proceedings of the 13th Annual Meeting of Particle Accelerator Society of Japan
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Proceedings of the 13th Annual Meeting of Particle Accelerator Society of Japan - 851-852, 2016
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1010000782309983115
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- Article Type
- journal article
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- Data Source
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- KAKEN