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確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
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- 王 森レイ
- 愛媛大学
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- 樋上 喜信
- 愛媛大学
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- Takahashi Hiroshi
- 愛媛大学
Bibliographic Information
- Title
- 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
- Author
- 中岡典弘，青野智己，工藤壮司，王 森レイ，樋上喜信，高橋 寛，岩田浩幸，前田洋一，松嶋 潤
Journal
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- 電子情報通信学会技術報告
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電子情報通信学会技術報告 119 145-150, 2019
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1010005505877632257
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- Article Type
- journal article
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- Data Source
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- KAKEN