確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析

書誌事項

タイトル
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
著者
中岡典弘,青野智己,工藤壮司,王 森レイ,樋上喜信,高橋 寛,岩田浩幸,前田洋一,松嶋 潤

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010005505877632257
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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