Atomic-resolution STEM imaging of materials using a segmented annular all field detector

書誌事項

タイトル
Atomic-resolution STEM imaging of materials using a segmented annular all field detector
著者
N.Shibata, S.D.Findlay, Y.Kohno, H.Sawada, Y.Kondo, Y.Ikuhara

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詳細情報

  • CRID
    1010282257030770945
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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