Simulation of secondary electron emission from a stepped surface in scanning ion microscopes
書誌事項
- タイトル
- Simulation of secondary electron emission from a stepped surface in scanning ion microscopes
- 著者
- Ohya K
収録刊行物
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- Japanese Journal of Applied Physics
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Japanese Journal of Applied Physics 53 2014
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詳細情報
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- CRID
- 1010282257185630346
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- KAKEN