本研究は、半導体スピン量子ビットの大規模集積化に向けて、量子ドット２次元アレイの新規制御法の開発を目的とする。不純物や加工誤差による不均一性を考慮した２次元アレイ特有の制御法を確立し、実際の小規模２次元アレイデバイスを用いてその有効性を検証する。制御の複雑さや所要時間の集積度に対するスケーリングを飛躍的に改善し、またデバイスに求められる均一性や再現性を緩和することにより、半導体量子ビット大規模集積化の実現に貢献する。
