異なるアルキル鎖長を持つα,ω-クオターチオフェンを合成し，アルキル鎖長が薄膜の結晶成長に及ぼす効果を明らかにすることを目的として、放射光を用いた２次元すれすれ入射Ｘ線回折(2D-GIXD)実験を行った。試料としてアルキル基をもつCn-4T (n=0, 4～12) を合成し,SPring-8，BL19B2 で薄膜形成過程のリアルタイム2D-GIXD 測定を行った。明瞭なX 線回折パターンが観測され、この回折パターンの解析によって，薄膜結晶の格子定数を決定した。その結果、Cn-4T は、結晶構造に関し、C4～C9までとC10以降の２つのグループに分類できることが判明した。
