＜論文＞半導体テルル・セレン化ビスマスの螢光X線分析法によるセミ・ファンダメンタル・パラメータ法の解析
書誌事項
- タイトル別名
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- Analyst of Compound Semiconductors Bi2 (Te1-ySey)3 System by Means of Semifundamental Parameter Method in the X-Ray Fluorescent Spectrometry
- ハンドウタイ テルルセレン カ ビスマス ノ ケイコウ Xセン ブンセキホウ 二 ヨル セミ ファンダメンタル パラメータ ホウ ノ カイセキ
収録刊行物
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- 大阪経済法科大学論集
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大阪経済法科大学論集 (34), 23-48, 1988-11-25
大阪経済法科大学経法学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1050013332666202112
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- ISSN
- 02879468
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- 本文言語コード
- ja
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- 資料種別
- departmental bulletin paper
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- データソース種別
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- IRDB