ICDS-20 : proceedings of the 20th International Conference on Defects in Semiconductors, held in Berkeley, CA, USA, 26-30 July 1999

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書誌事項

タイトル
"ICDS-20 : proceedings of the 20th International Conference on Defects in Semiconductors, held in Berkeley, CA, USA, 26-30 July 1999"
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guest editors, Chris Van de Walle, Wladek Walukiewicz
出版者
  • North-Holland
出版年月
  • c1999
書籍サイズ
27 cm

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000793728153984
  • NII書誌ID
    BB25713184
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    ne
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • [Amsterdam], The Netherlands
  • データソース種別
    • CiNii Books
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