Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-k Dielectrics-2003 : symposium held April 21-25, 2003, San Francisco, California, U.S.A.

CiNii 所蔵館 2館

書誌事項

タイトル
"Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-k Dielectrics-2003 : symposium held April 21-25, 2003, San Francisco, California, U.S.A."
責任表示
editors, Andrew J. McKerrow ... [et al.]
出版者
  • Materials Research Society
出版年月
  • c2003
書籍サイズ
24 cm

この図書・雑誌をさがす

注記

Includes bibliographical references and indexes

関連図書・雑誌

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000793830195584
  • NII書誌ID
    BA65639421
  • ISBN
    1558997032
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Warrendale, Pa.
  • データソース種別
    • CiNii Books
ページトップへ