Possible reliability problems affecting use of TOEIC IP Test scores

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書誌事項

タイトル
"Possible reliability problems affecting use of TOEIC IP Test scores"
責任表示
Brian D. Bresnihan
出版者
  • Institute for Policy Analysis and Social Innovation, University of Hyogo
出版年月
  • 2010
書籍サイズ
21 cm

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注記

"University of Hyogo Monograph Vol. LXXXII"--T.p. verso

Includes bibliographical references

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000793902524928
  • NII書誌ID
    BB0382858X
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Kobe
  • 分類
  • データソース種別
    • CiNii Books
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