Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A.

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書誌事項

タイトル
"Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A."
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editors, Janice L. Veteran. ... [et al.]
出版者
  • Materials Research Society
出版年月
  • c2002
書籍サイズ
24 cm

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000793946018688
  • NII書誌ID
    BA60694309
  • ISBN
    1558996524
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Warrendale
  • データソース種別
    • CiNii Books
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