Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy
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書誌事項
- タイトル
- "Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy"
- 責任表示
- Bert Voigtländer
- 出版者
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- Springer
- 出版年月
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- c2015
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
Includes bibliogrpahical references (p. 375-376) and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794003523712
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- NII書誌ID
- BB18388684
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- ISBN
- 9783662452394
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- gw
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Berlin
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- 件名
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- FREE: (Produktform)Hardback
- FREE: (Zielgruppe)Fachpublikum/ Wissenschaft
- FREE: (Zielgruppe)Research
- FREE: (BIC Subject Heading)TDPB
- FREE: Scanning probe microscopy
- FREE: Scanning force microscopy
- FREE: Non-contact AFM
- FREE: Cantilever detection methods
- FREE: Scanning tunneling spectroscopy
- FREE: (VLB-WN)1689: Hardcover, Softcover / Technik/Sonstiges
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- データソース種別
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- CiNii Books