Machine vision systems for inspection and metrology VIII : 21-22 September 1999, Boston, Massachusetts

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タイトル
"Machine vision systems for inspection and metrology VIII : 21-22 September 1999, Boston, Massachusetts"
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John W.V. Miller, Susan Snell Solomon, Bruce G. Batchelor, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c1999
書籍サイズ
28 cm

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