Automated scanning low-energy electron probe (ASLEEP) for semiconductor wafer diagnostics
書誌事項
- タイトル
- "Automated scanning low-energy electron probe (ASLEEP) for semiconductor wafer diagnostics"
- 責任表示
- A. Christou
- 出版者
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- U.S. G.P.O.
- 出版年月
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- 1978
- 書籍サイズ
- 26 cm
- 巻次・年月次
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- 400-30
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注記
Includes bibliographical references
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794029452672
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- NII書誌ID
- BB18755286
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- LCCN
- 78002200
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Washington
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- 分類
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- LCC: QC100
- LCC: TK7878.6
- DC: 602.1 s
- DC: 621.3815/48
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books