Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials

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書誌事項

タイトル
"Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials"
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O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
出版者
  • Springer
  • 2nd ed
出版年月
  • c2010
書籍サイズ
25 cm

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注記

Includes bibliographical references (p. 235-244) and index

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