Proceedings of the Symposia on Reliability of Semiconductor Devices/Interconnections, and Dielectric Breakdown, and Laser Process for Microelectronic Applications

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書誌事項

タイトル
"Proceedings of the Symposia on Reliability of Semiconductor Devices/Interconnections, and Dielectric Breakdown, and Laser Process for Microelectronic Applications"
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edited by Hazara S. Rathore, G.S. Mathad, Du B. Nguyen ; Dielectric Science & Technology and Electronics Divisions
出版者
  • Dielectric Science & Technology, and Electronics Divisions, Electrochemical Society
出版年月
  • c1992

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000794140589184
  • NII書誌ID
    BA14411619
  • ISBN
    1566770033
  • LCCN
    92070488
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/92070488
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Pennington, NJ
  • データソース種別
    • CiNii Books
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