書誌事項
- タイトル
- "Defect and microstructure analysis by diffraction"
- 責任表示
- Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Bunge
- 出版者
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- Oxford University Press
- 出版年月
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- 1999
- 書籍サイズ
- 24 cm
- シリーズ名/番号
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- : hbk
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794156423168
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- NII書誌ID
- BA45673212
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- ISBN
- 0198501897
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- LCCN
- 99028971
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/99028971
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- uk
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Oxford ; Tokyo
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- 件名
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- LCSH: Crystals -- Defects -- Analysis
- LCSH: Diffraction
- LCSH: X-ray crystallography
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- データソース種別
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- CiNii Books
