Imaging techniques for testing and inspection : seminar-in-depth, February, 1972, Los Angeles, California
書誌事項
- タイトル
- "Imaging techniques for testing and inspection : seminar-in-depth, February, 1972, Los Angeles, California"
- 責任表示
- Editors, John C. Urbach, Byron Brenden [and] Robert Aprahamian ; SPIE co-sponsors, the American Society for Nondestructive Testing, the American Society for Testing and Materials
- 出版者
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- Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
- 出版年月
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- c1972
- 書籍サイズ
- 29 cm
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注記
Includes bibliographical references
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794282752256
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- NII書誌ID
- BA42012611
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- LCCN
- 74189475
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/74189475
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Redondo Beach, Calif.
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- データソース種別
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- CiNii Books