Characterization of very high speed semiconductor devices and integrated circuits : 23-25 March, 1987, Bay Point, Florida
書誌事項
- タイトル
- "Characterization of very high speed semiconductor devices and integrated circuits : 23-25 March, 1987, Bay Point, Florida"
- 責任表示
- Ravi Jain, editor ; sponsored by SPIE--the International Societyfor Optical Engineering ; cooperating sponsor, the Metallurgical Society
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1987
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographies and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794361870080
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- NII書誌ID
- BA13194129
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- ISBN
- 0892528303
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- LCCN
- 87061008
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/87061008
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- データソース種別
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- CiNii Books
