陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究

CiNii 所蔵館 1館

書誌事項

タイトル
"陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究"
責任表示
上殿明良研究代表者
出版者
  • [上殿明良]
出版年月
  • 2003.5
書籍サイズ
30cm
タイトル別名
  • ヨウデンシ ショウメツ ニヨル GaNケイ ハンドウタイ ノ テン ケッカン ノ ケンキュウ

この図書・雑誌をさがす

注記

研究課題番号: 13650332

関連図書・雑誌

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000794917251840
  • NII書誌ID
    BA66772336
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    ja
  • 出版地
    • [つくば]
  • データソース種別
    • CiNii Books
ページトップへ