書誌事項
- タイトル
- "High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers"
- 責任表示
- Václav Holý, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach
- 出版者
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- Springer
- 出版年月
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- c1999
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000795225415936
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- NII書誌ID
- BA39430045
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- ISBN
- 354062029X
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- LCCN
- 98047149
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/98047149
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- gw
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Berlin
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- 分類
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- LCC: QC1
- LCC: QC176.84.O7
- DC21: 539 s
- DC21: 530.4/175
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books