書誌事項
- タイトル
- "Electron beam microanalysis"
- 責任表示
- by D. R. Beaman and J. A. Isasi
- 出版者
-
- American Society for Testing and Materials
- 出版年月
-
- [1972]
- 書籍サイズ
- 28 cm
この図書・雑誌をさがす
注記
Bibliography: p. 75-[80]
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000795475100928
-
- NII書誌ID
- BA2051708X
-
- LCCN
- 74189005
-
- Web Site
- https://lccn.loc.gov/74189005
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Philadelphia
-
- 件名
-
- LCSH: Microchemistry
- LCSH: Electron probe microanalysis
- LCSH: Electron microscopy
-
- データソース種別
-
- CiNii Books
